成都紫外可見分光光度計(jì)UV765CRT波長范圍：190nm～1100nm，光譜帶寬：2nm。
成都具有比例雙光束，保證*的穩(wěn)定性。超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。
成都采用*合理的光路系統(tǒng)、低噪聲的電路設(shè)計(jì)，具有出色的可靠性和穩(wěn)定性。

成都紫外可見分光光度計(jì)UV765CRT可以滿足日常分析到科學(xué)研究等廣泛的應(yīng)用需求。儀器采用*合理的光路系統(tǒng)、低噪聲的電路設(shè)計(jì)，具有出色的可靠性和穩(wěn)定性。

成都紫外可見分光光度計(jì)UV765CRT主要特點(diǎn)：
◆比例雙光束，保證*的穩(wěn)定性。
◆超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。
◆高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機(jī)對話操作。
◆長壽命石英涂膜光學(xué)部件。
◆常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時(shí)間掃描。
◆顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持打印機(jī)。
◆自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
◆自動尋找燈源*位置，獨(dú)立燈室，燈源更換簡單方便。
◆大樣品室，自動8聯(lián)樣品架。
◆自診斷功能，隨時(shí)檢查儀器狀態(tài)和性能。

成都UV765CRT技術(shù)指標(biāo)：
◆波長范圍：190nm～1100nm
◆波長zui大允許誤差：±0.5nm
◆波長重復(fù)性：≤0.2nm
◆光譜帶寬：2nm
◆雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處以NaI測定，在360nm處以NaNO2測定）
◆透射比測量范圍：0.0%（τ）～200.0% （τ）
◆吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00（A）
◆透射比準(zhǔn)確度：±0.3%（τ）
◆漂移：≤0.001A/h
◆透射比zui大允許誤差：0.15%（τ）
◆基線平直度：±0.002A
◆噪聲：100%噪聲≤0.15%（τ） 0%噪聲≤0.10%（τ）
◆掃描速度；快、中、慢